AI與高效能運算需求爆發的背景下,FOPLP技術正重新受到矚目,被視為次世代先進封裝的關鍵選項。全球多家大廠都在投入相關研發,預期未來幾年FOPLP的技術將趨於成熟。但由於由於面板尺寸遠大於晶圓,FOPLP 面臨的主要技術挑戰在於面板的翹曲變形、製程均勻性與對位精度。初期許多廠商嘗試FOPLP時,因大型基板熱應力難控,導致封裝良率不佳。例如,面板越大翹曲越嚴重,使 RDL 對位困難、壓焊接合不良等問題頻出,曾一度限制了FOPLP的商業化進程。隨著材料改良、製程優化和裝備升級,業界逐步克服了翹曲及對位難題。此外,為確保大面板的良率,業者也導入了例如 In-situ 單元測試(如力成的 InPUT® 技術)來及早篩檢不良晶片,以提升整體良率。隨技術進步,FOPLP 開始具備「高良率」的商業化優勢。
本系列講座將針對扇出型封裝技術現況及技術、晶圓與載體分離變形問題分析、扇出型封裝技術未來趨勢等一一深入探討和分析。