半導體產業中製造到成品必須經歷很多材料的製程工序，每一個工序都可能會造成良率或可靠度不穩定，本課程著重積體電路製造產線過程中的監控量測與良率關係，確保積體電路製造中每一個製程都能符合預期成效，講解如何設計監控的查核點(WAT)將是本課程的重點以及調整查核點(WAT)的嚴謹程度，解說與推論積體電路故障的成因以及用什麼方法找出問題，藉此來修正製程流程．另外產品等級的測試(CP)方法與製程關係也會進行解說。
課程與研討會內容介紹
-
日期
講題
講師
-
11/24
-
09:30-12:30
1.半導體製程量測-3小時 (著重產線過程中的分析監控量測與良率關係)
■積體電路製程流程概述
■WAT (wafer acceptable test)觀念
■製程過程中的量測技術
■設計準則 (Design Rule)南臺科技大學電子工程系特聘教授 兼
光電與積體電路故障分析中心執行長
邱執行長 -
12:30-13:30
午餐
-
13:30-16:30
2.IC故障分析-3小時(著重在故障成因與良率關係)
■良率的概念
■良率與故障分析流程
■故障案例分析
■晶圓測試相關流程與測試靈敏度(test marginality、shomo plot)南臺科技大學電子工程系特聘教授 兼
光電與積體電路故障分析中心執行長
邱執行長
報名資訊
-
主辦單位
社團法人台灣電子設備協會
-
課程日期
110年11月24日
-
報名日期
即日起至110年11月22日止，額滿提前截止。
-
課程目標
1.了解積體電路良率與製程的關係
2.了解積體電路製程過程中如何監控正確性與WAT的觀念．
3.了解積體電路製程過程故障與分析的方法，且對於該儀器的運作原理及機制有深刻的認知。 -
線上課程工具
Webex Meetings
-
登入線上課程時間
課程當天上午 09:00 開放登入
-
連線資訊
課程開始前一天將寄送會議連結
-
加入會議方式
建議於課前先下載會議軟體：Cisco Webex，並使用 Webex 桌面應用程序加入會議。
-
報名費用
原價：4,500元/人，費用含稅（請勿扣除郵資或手續費）、講義 。
◆若參與線上課程，本課程將於課前寄送紙本講義、發票至學員公司地址。 -
課程優惠
1.11月18日前報名且完成繳費者，享早鳥優惠價$4,000元。
2.同公司二人同行優惠價每人$3,500元。
3.TEEIA會員優惠價$3,000元。
※請於開課前完成繳費，方享以上優惠資格。※ -
繳費資訊
費用請勿另扣除郵資及匯兌手續費。
1.支票或匯票─請開立110年11月24日到期支票，“掛號”郵寄方式繳費並附線上報名通知影本
►支票或匯票抬頭─社團法人台灣電子設備協會(請務必寫全名)
►郵寄地址─11011台北市信義路五段5號3樓3E41室 鄭 小姐收
2.電匯或ATM轉帳後“傳真”匯款收執聯或ATM轉帳記錄並註明報名課程及人員
►受款帳戶─社團法人台灣電子設備協會(請務必寫全名)
►受款銀行─土地銀行工研院分行 (土銀代碼：005)
►受款帳號─156-001-000951
►備 註─請勿塗改轉出帳號，以利本會對帳核銷 -
退費標準
若欲取消報名， 請於開課前2日以傳真或email告知主辦單位， 並電話確認退費事宜，逾期將郵寄講義，恕不退費。
未於期限內申請退費，則不得以任何因素要求退費，惟可轉讓與其他人參訓。 -
聯絡人
TEL：02-27293933 ext.17楊小姐, ext.22鄭小姐
FAX：02-27293950
E-mail：vivi@teeia.org.tw、anne@teeia.org.tw
SHARE :
