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【線上課程】積體電路製程監控與故障分析概念研討會(2021/11/24)

半導體產業中製造到成品必須經歷很多材料的製程工序,每一個工序都可能會造成良率或可靠度不穩定,本課程著重積體電路製造產線過程中的監控量測與良率關係,確保積體電路製造中每一個製程都能符合預期成效,講解如何設計監控的查核點(WAT)將是本課程的重點以及調整查核點(WAT)的嚴謹程度,解說與推論積體電路故障的成因以及用什麼方法找出問題,藉此來修正製程流程.另外產品等級的測試(CP)方法與製程關係也會進行解說。

課程與研討會內容介紹
  • 日期

    講題

    講師

  • 11/24

  • 09:30-12:30

    1.半導體製程量測-3小時 (著重產線過程中的分析監控量測與良率關係)
    ■積體電路製程流程概述
    ■WAT (wafer acceptable test)觀念
    ■製程過程中的量測技術
    ■設計準則 (Design Rule)

    南臺科技大學電子工程系特聘教授 兼
    光電與積體電路故障分析中心執行長
    邱執行長

  • 12:30-13:30

    午餐

  • 13:30-16:30

    2.IC故障分析-3小時(著重在故障成因與良率關係)
    ■良率的概念
    ■良率與故障分析流程
    ■故障案例分析
    ■晶圓測試相關流程與測試靈敏度(test marginality、shomo plot)

    南臺科技大學電子工程系特聘教授 兼
    光電與積體電路故障分析中心執行長
    邱執行長

報名資訊
  • 主辦單位

    社團法人台灣電子設備協會

  • 課程日期

    110年11月24日

  • 報名日期

    即日起至110年11月22日止,額滿提前截止。

  • 課程目標

    1.了解積體電路良率與製程的關係
    2.了解積體電路製程過程中如何監控正確性與WAT的觀念.
    3.了解積體電路製程過程故障與分析的方法,且對於該儀器的運作原理及機制有深刻的認知。

  • 線上課程工具

    Webex Meetings

  • 登入線上課程時間

    課程當天上午 09:00 開放登入

  • 連線資訊

    課程開始前一天將寄送會議連結

  • 加入會議方式

    建議於課前先下載會議軟體:Cisco Webex,並使用 Webex 桌面應用程序加入會議。

  • 報名費用

    原價:4,500元/人,費用含稅(請勿扣除郵資或手續費)、講義 。
    ◆若參與線上課程,本課程將於課前寄送紙本講義、發票至學員公司地址。

  • 課程優惠

    1.11月18日前報名且完成繳費者,享早鳥優惠價$4,000元。
    2.同公司二人同行優惠價每人$3,500元。
    3.TEEIA會員優惠價$3,000元。
    ※請於開課前完成繳費,方享以上優惠資格。※

  • 繳費資訊

    費用請勿另扣除郵資及匯兌手續費。
    1.支票或匯票─請開立110年11月24日到期支票,“掛號”郵寄方式繳費並附線上報名通知影本
    ►支票或匯票抬頭─社團法人台灣電子設備協會(請務必寫全名)
    ►郵寄地址─11011台北市信義路五段5號3樓3E41室 鄭 小姐收
    2.電匯或ATM轉帳後“傳真”匯款收執聯或ATM轉帳記錄並註明報名課程及人員
    ►受款帳戶─社團法人台灣電子設備協會(請務必寫全名)
    ►受款銀行─土地銀行工研院分行 (土銀代碼:005)
    ►受款帳號─156-001-000951
    ►備  註─請勿塗改轉出帳號,以利本會對帳核銷

  • 退費標準

    若欲取消報名, 請於開課前2日以傳真或email告知主辦單位, 並電話確認退費事宜,逾期將郵寄講義,恕不退費。
    未於期限內申請退費,則不得以任何因素要求退費,惟可轉讓與其他人參訓。

  • 聯絡人

    TEL:02-27293933 ext.17楊小姐, ext.22鄭小姐
    FAX:02-27293950
    E-mail:vivi@teeia.org.tw、anne@teeia.org.tw

※注意事項

1. 協會保有更改課程內容與上課時間之權利。
2. 因課前教材、講義之準備及需為您進行退款相關事宜,若您不克前來,請於開課三日前告知,以利行政作業進行並共同愛護資源。
3.若原報名者因故不克參加,但欲更換他人參加,敬請於開課前二日通知。
4.為尊重講師之智慧財產權益,恕無法提供課程電子檔。

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